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日本日立掃描探針顯微鏡控制器概述
AFM5000Ⅱ工作站采用全新的圖標(biāo)用戶界面,標(biāo)準(zhǔn)配備參數(shù)自動設(shè)置功能(RealTune® II),即使是剛剛接觸SPM的初學(xué)者或者遇到全新的樣品時,也能快速獲得準(zhǔn)確的測量數(shù)據(jù)。
日本日立掃描探針顯微鏡控制器特點
1. RealTune® II 樶新的參數(shù)自動設(shè)置功能
【實例1】纖維狀的碳納米管結(jié)構(gòu)體(壁虎膠帶)
【樣品提供:日東電工股份公司】
以往的方法這些樣品需要對參數(shù)進行精細的調(diào)整,操作難度很高,并且柔軟的纖維易變形產(chǎn)生皺痕。
新處理方法
自動設(shè)置成合適的條件,可在復(fù)雜的纖維結(jié)構(gòu)不變形的情況下進行精zhun測量。
【實例2】用于有機薄膜晶體管的多結(jié)晶薄膜(并五苯多結(jié)晶薄膜)
【樣品提供:神戶大學(xué)北村研究室】
以往的方法這種樣品,表面容易損壞,易產(chǎn)生皺痕、臺階的輪廓也不明顯。
新處理方法
自動設(shè)置成合適的條件,穩(wěn)定地測量分子級別上的臺階結(jié)構(gòu)。
2. 全新的圖標(biāo)用戶界面(Graphical Use Interface)
簡單的菜單設(shè)置
3. 3D覆蓋功能
能夠?qū)悠沸蚊布拔锢硖匦辕B加顯示,并能構(gòu)畫出3D畫面,可以通過視覺感受表示樣品的物理特性。
4. 凹凸分析、剖面輪廓分析功能
配備凹凸分析、剖面輪廓分析等多樣的分析功能。
5. 小型化設(shè)計
輕便的小型化外形,適合各種場地擺放。
220 mm(W)×500 mm(D)×385 mm(H)、約15 kg
能夠?qū)悠沸蚊布拔锢硖匦辕B加顯示,并能構(gòu)畫出3D畫面,可以通過視覺感受表示樣品的物理特性。