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HIOKI發(fā)售阻抗分析儀IM7587
HIOKI(日置)發(fā)售阻抗分析儀IM7587
可測量高達3GHz的高頻電子元件
HIOKI這次發(fā)售了阻抗分析儀IM7587。
在信息化發(fā)展的現在，智能手機等移動設備能夠適用于LTE、Wi-Fi、GPS等，而高頻化的發(fā)展也讓其帶寬達到數GHz。同時，移動設備中所使用的高頻感應器或鐵氧體磁珠之類的電子元件也趨于高頻化。這些電子元件需要按照從數百MHz到數GHz的高頻來進行特性評估，所以高頻的測量儀器的需求也隨之增加。
這次發(fā)售的機型是可以進行比去年IM7585(樶高可測1.3GHz的高頻)更高頻率測量的產品。IM7587的測量頻率達到了1MHz～3GHz，能夠*現在高頻電子元件的測量儀器。
產品特點
1.可進行樶高3GHz的穩(wěn)定的高頻測量
IM7587的測量頻率是1MHz～3GHz。在改變頻率的同時進行測量的分析儀的模式下寬頻帶的話則可以進行偏差較小的穩(wěn)定的阻抗評估，因此能夠從電子元件的開發(fā)到生產線上等各種領域內使用。
2.短0.5ms的高速測量，有助于提高生產性
短0.5ms(0.0005秒)的高速測量。因此，對于希望能夠快速檢查大量電子元件的生產廠家來說，大幅提高了生產效率。
3.主機尺寸小巧，降低生產成本
和去年發(fā)售的IM7580系列同樣小巧、輕便。電子元件生產廠家的生產線中，可以實現為了提高空間效率的檢查系統(tǒng)的小型化，以及通過同時安裝多臺來縮短檢查時間，從而降低生產成本。而且，這類測量儀器非常的輕巧方便攜帶，能夠在研發(fā)、品保、生產線等多種場合同時使用，放在桌上也不會占太多空間。
4.各種判定功能，判斷合格與否
單一頻率測量的LCR測試儀模式下，有判斷電子元件合格與否的比較器功能、挑選電子元件的BIN功能。比較器功能是設置上下限值，并以其為判斷標準進行合格與否的判斷。相對于以1個判斷標準判斷合格與否的比較器功能，BIN功能多可以設置10種判斷標準，并進行排名。
多種頻率測量的分析模式下，有從電子元件的頻率特性中能判斷合格與否的區(qū)域判定、峰值判定。區(qū)域判定是確認測量值是否進入任意設置的判定區(qū)域內的功能。峰值判定是判定共振點的功能。
另外，還具有任意設置多種頻率，并以此設定值為基礎判斷合格與否的點判斷功能。
5.可以搭配SMD治具IM9201
我司今年7月發(fā)售了研發(fā)、品保部門中必須的SMD用治具(IM9201)。IM9201是適用于高頻電子元件的測量治具，樶高可測3GHz。和IM7587組合使用，能夠在這類電子元件測量中發(fā)揮威力。
基本參數
基本精度 Z：0.65%rdg.θ：0.38(代表值)
測量時間 短0.5ms(模擬測量時間)
測量范圍 100mΩ～5kΩ
測量頻率 1MHz～3GHz
測量信號電平 -40.0dBm～+1.0dBm(4mV～502mV)
主要用途
電子元件生產廠家內的電子元件的出貨檢查和特性評估
電子設備生產廠家內的電子元件的驗貨檢查和特性評估
高校研究所內的電子元件的特性評估
上述內容為發(fā)售當日的信息。之后可能會有參數等變更的情況，請了解
